ZnO压敏电阻器吸潮机理的研究

摘要：

该文在对ZnO压敏电阻器吸潮现象的研究中发现：传统的吸潮现象生成机理无法解释电流脉冲击后ZnO压敏电阻器耐吸潮性能大为降低这一现象。因此该文提出吸潮现象的产生并不主要取决于ZnO压敏瓷体表面是显气孔率，而是主要取决于ZnO压敏瓷体内部微观结构的完整性，并针对吸潮粉体和吸潮瓷片提出了处理方案。

关键词： 表面吸附 离子扩散

作者: 平帅 马睿

作者单位: 陕西华星压敏电阻器厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届压敏电阻器学术年会

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 63～67

在线出版日期: 1999-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）