用双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的微机处理程序

摘要：

该文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值数的方法。同时，提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。

关键词： 表面粗糙度 双管显微镜 评定参数 采样点

作者: 蒋大文 谢驰 王继平

作者单位: 四川大学测试技术与控制工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国首届计算机辅助公差设计专题学术会议暨全国高校互换性与测量技术研究会2000年年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 471～476

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）