离子束溅射制备V〈,2〉O〈,5〉薄膜材料
报道一种制备V〈,2〉O〈,5〉薄膜的新方法。采用离子束溅射(Ion-Bearm-sputtering)V〈,2〉O〈,5〉粉末靶的方法制备了氧化钒的薄膜。用XPS对溅射出的薄膜进行测试表明,生成的是V〈,2〉O〈,5〉薄膜。通过椭偏光谱测试光吸收系数α,并拟合得到禁带宽度为2.82eV。测定了SiO〈,2〉衬底上的V〈,2〉O〈,5〉的电阻随温度变化的曲线和电阻率的激活能。
离子束溅射 氧化钒 光吸收系数 激活能
周进 茹国平 李炳宗
复旦大学电子工程系,微电子研究所(上海)
国内会议
长沙
中文
274~277
1999-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)