高注量快中子辐照α-Al<,2>O<,3>退火行为研究

摘要：

该文采用正电子湮没寿命谱测量技术研究了3×10<”20>n/cm<”2>注量快中子辐照后的α-Al<,2>O<,3>中空洞尺度随退火温度的变化。实验结果表明，辐照的α-Al<,2>O<,3>中，从550℃开始出现空洞，空洞尺度随退火温度而增大，经1050℃退火后，形成1.1nm空洞。

关键词： 快中子辐照 α-Al<,2>O<,3> 正电子寿命 空洞

作者: 徐勇军 范志国 罗起 朱升云 岩田忠夫

作者单位: 中国原子能科学研究院(北京) 日本原子能研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第七届正电子湮没学术会议

会议地点: 泉州

会议语种:中文

页码: 149-149

在线出版日期: 1999-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）