边界扫描描述语言的设计及IEEE1149.1b

摘要：

该文详细介绍了边界扫描描述语言的结构和设计规则，包括ＩＥＥＥ１１４９．１ｂ，可在设计、开发带有边界扫描测试的ＡＳＩＣ中，用于其ＢＳＤＬ的设计。对每个语句形式都进行了举例说明，对设计中应注意的难点也进行了描述和给出了电路示意图。

关键词： 可测性设计 BSDL TAP 边界扫描寄存器 边界扫描单元

作者: 张虹

作者单位: 计算技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届中国计算机维护与管理学术会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 117～132

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）