电路可测试性与故障诊断中测试点的选择

摘要：

该文通过对电路可测试性的概述，分析了几种由可测试性测芳来表示电路可测试性的方法，并重点论述了故障等效笥分块法的计算过程，提出了改善电路可测试性的途径。基于此，针对某随动系统的特点，按照可测试性最佳的原则，具体选择了一组测试点用于电路的故障诊断。联机测试表明，对试验所设定的故障，测试点集合能够正确提供信息，该选择方法具有实用性。

关键词： 可测试性 故障诊断 可测试性测度

作者: 张辉 周永祯

作者单位: 海军工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届电工理论学术讨论会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 45～48

在线出版日期: 1999-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）