基于最小资源的扫描触发器选择算法

摘要：

在集成电路的亚微米生产工艺中,布线资源已成为影响电路功耗、速度、及成本的最主要因素,本文提出了一种基于可测试及布级成本度量的部分扫描触发器选择和连接算法,将可测试成本累积效应引入到扫描触发器选择算法中,以反映测试故障的相对困难性,同时将布线成本引入到扫描触发器连接算法中,确保在布线通道中不增加额外布线.

关键词： 可测试设计 扫描电路 扫描触发器 可测试成本 布线成本 集成电路

作者: 彭新光 余雪丽 孟渊

作者单位: 太原理工大学信息工程学院 山西电力科学研究院

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第六届电子测量与仪器学术报告会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 54-57

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）