易测试设计专家系统可测试分析策略

摘要：

本文提出了一种用于VLSI易测试设计专家系统的可测试分析策略技术,将组成VLSI电路基本模块中的关键输入、输出口概念引入到可测试分析中,易测试设计技术仅应用到关键输入、输出口,而不是整个模块电路.同时还提出了可测试分析顺序技术,以便进一步减少额外硬件资源、改善电路的性能.

关键词： 可测试分析 易测试设计 不可测区域 专家系统 超大规模集成电路

作者: 罗霄华 彭新光 安秀兰

作者单位: 太原理工大学信息工程学院(太原)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第六届电子测量与仪器学术报告会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 15-18

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）