FPGA的测试

摘要：

现场可编程门阵列（FPGA）器件能通过对其进行编程实现具有用户规定功能的电路，因而特别适合集成电路的新品开发和小批量ASIC电路的生产。近几年来，FPGA的发展非常迅速，在计算机、通信和图象处理等领域得到了广泛的应用。随着FPGA的发展，测试FPGA的有关技术也得到了相应的发展，出现了不少有关FPGA的测试方面的文献”3-12”。本文综述已有FPGA的测试技术，并展望FPGA测试技术的发展。

关键词： 可编程器件 FPGA 故障模型 测试与诊断 可测性设计

作者: 黄维康

作者单位: 大学电子工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: ”98全国计算机测试与诊断学术会议

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 1～8

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）