基于BIST的FPGA连线资源测试

摘要：

在文中该系提出了一种通过内建自测(BIST)方法来测试现场可编程门阵列器件(FPGA)边线资源的方法。该方法通过10步编程，可以检测出EPGA边线资源中的故障。

关键词： 可编程门阵列器件 故障检测

作者: 司派发 黄维康

作者单位: 复旦大学电子工程系CAT室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 59～62

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）