现代颗粒表征技术的最新发展综述

摘要：

列出了现时所用的主要颗粒表征技术及每种技术所表征的物理特性及范围，对光学与声学的表征技术发展作了概括性的综述，并介绍了颗粒表征技术的国际标准近况。

关键词： 颗粒表征 光散射 声谱 国际标准 几何特性 粒度表征 表面特性表征

作者: 许人良

作者单位: 贝克曼-库尔特公司,迈阿密,佛罗里达(美国)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国颗粒学会”99年会、青年学者暨海峡两岸颗粒技术学术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 592～597

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）