计算机大规模集成电路芯片抗辐射加固性能评估技术研究

摘要：

研究了CMOS工艺计算机系统芯片的辐射效应，提出了一种计算机芯片生存能力抗辐射评估的基本概念，有关数据的收集与参量定义方法。对一种计算机芯片的辐射效应数据进行了处理和生存概率的计算。

关键词： 抗辐射加固 计算机系统 评估 生存概率

作者: 杨怀民

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所(绵阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 509～512

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）