测量纳米级变形的晶体光栅云纹法

摘要：

该文提出利用晶体的规则排列作计量光栅，用高空间分辨显微分析技术（HREM）记录晶体的结构像，HREM照片与普通光栅叠加，并利用傅立叶滤波技术倍增条纹，得到了高质量的，具有亚原子量级分辨率的云纹条纹图，用这一方法分析了位错、晶格变形、微缺陷附近的残余应力等微观力学现象。

关键词： 晶体光栅 云纹法 纳米

作者: 邢永明 戴福隆 谢惠民

作者单位: 清华大学工程力学系

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国实验力学学术会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 213-216

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）