晶体管反向电流随时间漂移的计算机仿真试验

摘要：

该文研究了晶体管反向电流漂移的统计规律，获得了对其均值和方差的预测方法，利用Monte-Carlo仿真对实际产品在寿命试验中的失效进行了预测，与实际试验进行对比，获得令人满意的结果。

关键词： 晶体管 反向电流漂移 计算机仿真试验 寿命试验

作者: 张增照 莫郁薇

作者单位: 部五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第九届学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 206～210

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）