镀膜光纤探针无透性的一种检测方法

摘要：

在近场光学显微镜的研制过程中，制备合适的探针是一个重要的环节。在腐蚀法制得的光纤光端附近镀铝膜后，采用扫描电子显微镜中的样品充电效应可检测出探针透光点的分布情况，亦可直接用电镜观察膜表面的均匀性，这对提前剔除不良探针有重要作用。结果该方法有效可行。

关键词： 近场光学显微镜 镀膜探针 无透性检测

作者: 戴宏 周庆

作者单位: 云南大学物理系(昆明)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会全息专委会年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 180～181

在线出版日期: 1999-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）