用低温Raman散射光谱研究不同处理的CdZnTe表面
利用低温Raman散射光谱分析，比较了4种典型处理的Cd<,0.96>Zn<,0.04>Te表面声子散射信号和表面元素沉积的变化。对-220～-90cm<”-1>的反斯托克斯分量进行分析得出，BM液腐蚀后的表面晶格完整性最好；LB液处理有利于进一步改善表面粗糙度和表面漏电流；离子轰击的表面缺陷多，质量差，但对制备良好欧姆接触的电极有现实意义。实验证明Raman 散射光谱对于探测表面上元素的沉积和分析表面质量的变化，进而优化表面处理工艺十分有效。
金属氧化物 Raman散射光谱 表面处理
裴慧元 方家熊
传感技术国家重点实验室中国科学院上海技术物理研究所(上海)
国内会议
海口
中文
397～402
2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）