关键词: 金属膜电阻 可靠性
作者: 陈耀祖 李本德
作者单位: 北京第二无线电器材厂
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会第十届电子元件学术年会
会议地点: 成都
会议语种:中文
页码: 89~93
在线出版日期: 1998-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)