边界扫描逻辑的验证

摘要：

边界扫描技术几年前已开始应用于芯片和板级设计，边界扫描测试设备使用BSDL文件测试芯片或芯片之间的互连。仅当边界扫描逻辑的正确性得到验证，才能保证芯片内部逻辑测试的正确性。该文提出了一种类似软件测试方法中的状态测试的方法，根据BSDL文件和状态转移表进行扫描逻辑功能测试和互连测试。

关键词： 边界扫描测试技术 边界扫描测试逻辑 芯片

作者: 朱国魂

作者单位: 桂林电子工业学院东校区CAT研究室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 40～44

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）