Ｘ射线荧光光谱法对浮法玻璃缺陷的快速定性检测

摘要：

该文主要探讨了利用Ｘ－射线荧光光谱仪对浮法玻璃的一些缺陷如疵点，结石进行扫描定性分析，以求快速找出这些缺陷的内在元素，及时对工艺的改进提供检测结果。

关键词： 检测 缺陷 浮法玻璃 荧光光谱仪 定性分析

作者: 孟照林

作者单位: 岛耀华国投浮法玻璃有限责任公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 1998年全国玻璃学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 910～913

在线出版日期: 1998-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）