作物根系研究新方法—DT-SCAN应用与实践

摘要：

该文简要介绍了DT-SCAN研究根系的分析原理，并对棉花、小麦分别进行研究与分析 。结果表明，利用DT-SCAN研究根系较以前各种方法有以下优点：快速、准确测定根系的根 长、根的平均直径、根系表面积。实践证明该方法测试结果准确，操作方便，是研究根系生长发育和分布规律的一种最好方法。

关键词： 计算机应用 DT-SCAN 根系

作者: 李亚兵 张立桢 王桂平 李向红

作者单位: 中国农业科学院棉花研究所(河南安阳) 邯郸市农业学校(河北邯郸)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国农业知识工程学术会议

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 72～75

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）