嵌入式计算机系统抗辐射加固的软件措施
该文应用以往的辐射效应结果，给出电子系统上使用的嵌入式计算机系统的典型故障特征。从所处理的数据对象入手，应用常规计算机容错技术，给出有效的软件加固设计方法，即容错加固设计方法和系统恢复加固设计方法，主要给出提高系统刚健性的有效措施，系统恢复技术只用了概念性的介绍。以辐射环境下计算机系统的薄弱环节－－数据存储器为例，进行了故障模拟、故障纠错／检错和故障恢复的模拟实验。
计算机系统 抗辐射加固 容错技术 故障模型
张新
CAEP电子工程研究所(成都)
国内会议
江苏扬州
中文
208～219
1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）