LAS-2000谱仪计算机控制与数据采集
LAS-2000谱仪是八十年代由法国引进的二次离子质谱仪(SIMS),利用该装置对HL-1、HL-1M装置等离子体与壁相互作用(PWI)、壁材料及其原位涂层的真空和等离子辐照性能进行了大量研究。
计算机控制 数据采集 LAS-2000谱仪
李波 李立 王明旭
国内会议
成都
中文
5~7
2000-06-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
计算机控制 数据采集 LAS-2000谱仪
李波 李立 王明旭
国内会议
成都
中文
5~7
2000-06-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)