关键词： 集成电路测试 集成电路设计 集成电路芯片 集成电路封装
作者: 张东 戴昌培
作者单位: 北京自动测试技术研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 第二届中国IC CAD联谊会
会议地点: 上海
会议语种:中文
页码: 94-98
在线出版日期: 1998-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）