关键词： 集成电路测试 事件序列发生器 测试系统
作者: 郭卓梁
作者单位: 中船总公司第709研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会
会议地点: 北京
会议语种:中文
页码: 145～148
在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）