高性能高密度集成电路发展的瓶颈问题

摘要：

互连线的长度随集成电路功能增多也即芯片面积的增大而增加.这些致集成电路中互连系统产生的信号RC延迟,信号串扰,功耗增大,使集成电路性能衰退,成为影响进一步发展的瓶颈.本文阐述这一瓶颈问题的原由,并简要介绍一些技术措施.

关键词： 集成电路 电路芯片 瓶颈问题 互连系统

作者: 阮刚

作者单位: 复旦大学电子工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 2000上海科技论坛综合报告会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 153-154

在线出版日期: 2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）