CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试

摘要：

CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。该文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类，得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出，然后给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案。

关键词： 集成电路 存储器 开路故障 地址译码器 容错性设计

作者: 刘建都

作者单位: 空军导弹学院计算中心(陕西三原)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 108～111

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）