面向功能的测试矢量生成技术的探讨

摘要：

综述了数字系统测试生成技术中结构测试和功能测试两种方法的优缺点；用实例分析了门级固定故障模型存在的问题；展望了VLSI和ASIC面向功能测试方法的发展新趋势。

关键词： 数字系统 芯片 测试矢量

作者: 郑菊言

作者单位: 中国航空工业总公司第615研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 18～20

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）