机械振动对测试电路影响的研究

摘要：

在环境恶劣的测试过程中，由于电路所处环境的机械振动，可能会引起电路及元器件的损坏，导致测试系统不能正常进行。该文介绍了在实际中减弱或避免机械振动对电路可靠性影响的方法，从而达到测试过程的顺利进行。

关键词： 机械振动 可靠性

作者: 张斌珍 张文栋 李永红 赵燕 严俊武

作者单位: 工学院(太原) 部一院

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第九届测试技术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 475～481

在线出版日期: 1998-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）