热丝CVD法在多孔硅衬底生长金刚石薄膜研究
利用热丝CVD系统研究了金刚石薄膜在多孔硅衬底上的成核和生长过程。实验发现金刚石是在孔的边缘成核,且成核密度达到3.6×10〈’7〉cm〈’-2〉。利用扫描电镜、XRD和拉曼散射对金刚石薄膜的表面形貌进行了研究。获得金刚石薄膜主要为(110)取向,并且与衬底有很好的结合力。
化学汽相沉积 薄膜 金刚石膜 成核 多孔硅
廖源 叶峰 邵庆益 王冠中
科技大学物理系(合肥) 科技大学结构分析开放实验室(合肥)
国内会议
北京
中文
666~670
1999-01-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)