红外探测器光槽性能多数的测试

摘要：

该文介绍了一种测试红外探测器光谱性能参数（主要针对比探测率D<”*>）的设计思想。对于不同的红外探测器根据其自身特点，选择合适的偏置电路及前置放大器，并利用实验中所测得的Vs，V<,n>值，计算出红外探测器的比探测率D<”*>。

关键词： 红外探测器 比探测率 偏置电路 前置放大器

作者: 蔡桂芳 张小玉

作者单位: 空军第一航空学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会信号与信息处理专业第三届学术会议

会议地点: 福建邵武

会议语种:中文

页码: 137～140

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）