关键词： 红外探测器 异质界面 缺陷
作者: 刘安生 邵贝羚 安全
作者单位: 北京有色金属研究总院,分析测试技术研究所(北京)
会议类型: 国内会议
会议名称: 第十一次全国电子显微学会议
会议地点: 昆明
会议语种:中文
页码: 507～508
在线出版日期: 2000-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）