会议专题

红外热成像技术在无损检测中的应用研究

本文采用FSI公司的新型红外热像仪,设计实现了一个红外热成像无损检测实验系统.其原理为由红外热成像得出的温度场分布判别出试件是否有缺陷,由峰值时间(试件表面温度差△T随时间变化过程中有一个最大值的时刻)t<,max>与缺陷深度1<”2>的正比关系计算出缺陷部位距试件表面的深度1.该系统主要由计算机、FSI公司的红外热像仪、试件和加热源四部分组成.其中加热源采用脉冲式红外光辐射源,用来对试件进行瞬态加热.在软件设计中,利用随热像仪配带的AnalyzIR图像处理软件,对红外图象进行实时采集和处理,计算各点温度,最后生成报告;用C语言编制了红外图象的滤波、放大和边缘检测等功能软件,以滤除各种噪声,提高温度分布的计算精度;在结果显示上,使试件的缺陷部分以红光闪烁,并以文字的形式给出缺陷面积和深度1;最后对检测结果存贮和打印.实验结果表明,该技术对试件缺陷的检测速度快,对缺陷面积和深度的确定精度比较高.同时由于采用了先进的红外热像仪和较为完善的处理软件,降低了对红外加热源的要求,并且可以探测较大导热材料的更小缺陷深度.

红外热成像 无损检测 图象处理

王立冬 孙世宇 程远增 段修生

军械工程学院(石家庄)

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2000-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)