两种非均匀性校正算法在实施中的若干问题

摘要：

非均匀性是困扰焦平面阵列探测器应用于的一个特殊问题，对于高量子效率器件尤为严重，该文简要介绍了焦平面阵列所存在的非均匀性问题对系统性能和影响，分析了非均匀性校正通常所采用的标校法的缺陷，以及一种自适应算法在实施中的一些问题，探索了各自的实用性和局限性，以及某些可能的改进。

关键词： 红外技术 焦平面阵列 非均匀性校正 计算方法

作者: 刘会通

作者单位: 哈尔滨工业大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国红外科学技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 246-249

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）