关键词： 红外光谱技术 电子元器件 失效分析 应用
作者: 何秀坤 汝琼娜 张建辉
作者单位: 产业部电子第四十六研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会生产技术学分会理化分析专业委员会第六届年会
会议地点: 北京
会议语种:中文
页码: 1～
在线出版日期: 1999-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）