蒙特卡罗方法对黑体辐射谱的光电子参数计算

摘要：

该文以黑体辐射能谱作为X光能谱，计算了黑体温度分别为1、3、5、8、10keV入射到某些材料后的光电产额和背散射电子能谱，为SGEMP理论研究和实验提供了有价值的数据。

关键词： 黑体辐射谱 光电产额 背散射电子

作者: 郭红霞 周辉 常冬梅 何宝平

作者单位: 核技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 146～148

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）