电子系统元器件指标分配实验研究
该文采用实验的方法研究了电子系统内电子元器件核辐射指标的分配。其研究目的是为系统用电子元器件的加固、考核和评估提供更加合理的参考。研究是通过采用晶体管辐射损伤监测器和S-32中子活化箔监测二个典型电子系统组件盒内印刷电路板上没位置处的中子注量的分布来确定组件内电子元器件的核辐射分配指标。通过两次中子反应堆辐照实验初步确定了具有不同结构形式的组件内电子元器件的指标分配系数约为0.7～1。
核辐射 指标分配 电子器件
贾温海
中国工程物理研究院电子工程研究所(成都)
国内会议
江苏扬州
中文
262～269
1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）