正交配置EBIC的线形

关键词： 半导体材料 少子扩散长度 扫描电子显微镜 电子束感生电流

作者: 杨锡震 李永良

作者单位: 北京师范大学分析测试中心(北京) 中科院材料科学实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一次全国电子显微学会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 579～580

在线出版日期: 2000-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）