ＰＣＴ－ＺＷ－Ⅱ小型测试系统的开发

摘要：

该文介绍了ＰＣＴ－ＺＷ－Ⅱ小型测试系统的垂发原量和开发过程，提出了一种新的集成电路大规模测试的解决办法，即以微型计算机为主体通过信号发生模块和数据采集模块的控制，完成集成电路的测试，并通过机械手和探针台的控制实现集成电路的大规模测试。

关键词： 半导体 集成电路 测试 单片计算机 机械手 探针台 数据采集 ＤＵＴ ＤＳＰ

作者: 朱洲 张国伟 王国章

作者单位: 市国华晶电子集团公司中央研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第五届青年学术年会

会议地点: 哈尔滨

会议语种:中文

页码: 575～578

在线出版日期: 1999-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）