簿片状半导瓷可电离缺陷的扩散系数与样品电导率的关系

摘要：

该文重新考察了薄片状半导瓷样品在气氛突变时与之相应的可电离缺陷向样品内扩散的边界条件和初始条件，在此基础上推导出扩散系数与电导率的关系，所得的结果与文献报导的实验结果相一致。

关键词： 半导瓷 缺陷 扩散系数 电导率

作者: 徐天华 石星军

作者单位: 大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国高技术陶瓷学术年会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 659～662

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）