关键词： 航空电子设备 塑封微电路 封背鉴定试验
作者: 刘涌
作者单位: 信息产业部电子五所
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会2000年电子产品防护技术研讨会
会议地点: 云南大理
会议语种:中文
页码: 57～59
在线出版日期: 2000-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）