硅单片线性放大电路EMP响应特性研究

摘要：

研究硅模拟集成电路中的单片线性放大电路EMP响应的测试夹具测试方法，在此基础上利用方波脉冲注入法研究硅线性放大电路处非工作状态下的EMP损伤阈值以及在正常工作状态下，EMP作用时出现干扰、阻塞和损伤的阈值。

关键词： 硅单片线性放大电路 EMP响应 损伤阈值 干扰 阻塞

作者: 李继国 刘庆祥

作者单位: 信息产业部电子十三所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 487～492

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）