以氧或水汽为源等离子体离子注入合成埋层二氧化硅
报道以氧或者水汽作为离了源以等离子体浸没离子注入(PⅢ)离子合成SIMOX。我们研究了PⅢ离子合成埋层SiO〈,2〉的工艺。用SIMS、XTEM等技术对样品进行了测试。
硅SOI 注氧隔离SIMOX 等离子体离子注入 等离子体氧隔离SPIMOX 顶层硅 埋层SiO〈,2〉
闵靖 吴晓虹 邹子英
市计量测试技术研究院,上海微电子分析测试重点实验室(上海) 市计量测试技术研究院,上海微电子分析测试重点实验室
国内会议
长沙
中文
263~265
1999-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)