纳米晶体的X射线线形分析

摘要：

随着纳米材料的不断发展，人们越来越重视纳米材料的表征。特别是晶粒大小，因它直接影响着纳米材料的性能。因此，测定晶粒大小是纳米材料结构表征的重要一环。该文就是利用广角X射线衍射议（WAXD），采用单线付氏线形分析法，详细地研究了不同制备方法、不同材料、不同处理条件的纳米晶的晶粒大小和微观畸变。

关键词： 广角 纳米 晶体结构 线形分析

作者: 高忠民 王文宇 徐跃

作者单位: 大学测试中心(长春) 大学材料所(长春)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国X射线衍射学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 178～179

在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）