光学干涉测量中干涉相位恢复的去包裹技术

关键词： 光学干涉测量 干涉相位 去包裹算法 图像分析

作者: 李柱 刘晓军 章明 高咏生

作者单位: 华中理工大学机械学院(武汉) 台湾中原大学机械工程系 香港科技大学机械系

会议类型: 国内会议

会议名称: 2000年计量测试学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 85～88

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）