实现光生折射率变化量直接测量的新方法

摘要：

在光纤光栅的制造技术中，对于折射率的变化量，一直是延用根据光栅的反射率间接推算的方法来得到。研究人员利用半导体激光器线性调频技术与光程差不为零的Mach-Zehnder干涉仪结合，构成调频连接波(Frequency Modulation Continuous Wave:FMCW)外差干涉仪，实现了对光生折射率变化量的快速、高精度测量。

关键词： 光纤光栅制造技术 光性折射变化量测量 半导体激光器 线性调频技术 外差干涉仪

作者: 黎敏 廖延彪 章恩耀 陈荣声 杨克武

作者单位: 清华大学电子系(北京) 北京玻璃研究院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国敏感元件与传感器学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 111～114

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）