光纤光栅器件的长期稳定性及其寿命预期

摘要：

阐述了紫外写入光纤Bragg光栅的光谱特性退化机制及其对器件应用的影响，并给出 了预期器件寿命的理论和实验方法。

关键词： 光纤光栅器件 性能退化 长期稳定性 寿命预期

作者: 陈莉

作者单位: 武汉化工学院(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国化合物半导体.微波器件和光电器件学术会议

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 448～452

在线出版日期: 2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）