LED光谱辐射特性测量系统

摘要：

使用日本滨松光子学株式会社生产的NMOS自扫描光电二极管列阵，组合分光色散系统和计算机技术，研究人员研制了一种新型LED光谱辐射测量，对各种器件测试结果表明，获得良好的效果。

关键词： 光谱辐射测量 智能化 测试仪 光强度 主波长

作者: 鲍超 李博 刘华锋

作者单位: 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,国际光电子学实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国LED产业研讨与学术会议

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 100～102

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）