会议专题

LED光谱辐射特性测量系统

使用日本滨松光子学株式会社生产的NMOS自扫描光电二极管列阵,组合分光色散系统和计算机技术,研究人员研制了一种新型LED光谱辐射测量,对各种器件测试结果表明,获得良好的效果。

光谱辐射测量 智能化 测试仪 光强度 主波长

鲍超 李博 刘华锋

浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,国际光电子学实验室

国内会议

第七届全国LED产业研讨与学术会议

厦门

中文

100~102

2000-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)