功能测试生成算法

摘要：

该文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法，并给出实用的算法模型。

关键词： 功能测试 测试向量 功能故障覆盖率 算法模型

作者: 石坚 沈森祖 夏强民

作者单位: 中船总公司第七研究院第七0九所(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 14～17

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）