透射式γ射线ICT中的散射修正和能谱硬化

摘要：

透射式γ射线ICT采集系统所获原始数据中，包含有Compton散射光子的计数，同时在使用具有多个能谱的放射源时，将破坏象素与灰度的一一对应关系，这些因素将给提高测量精度和图象重建带来难以克服的困难。该文讨论了二者的影响，并给出相应修天项的数学表达式。

关键词： 工业CT设备 非接触测量 散射 能谱硬化 散射修正 γ射线

作者: 王银峰 杨学恒

作者单位: 重庆大学理学院(重庆)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会精密机械分会99”精密工程学术讨论会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 140-140

在线出版日期: 1999-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）