大面积超导双面薄膜临界参无损测量系统

摘要：

随着高温超导双面薄膜技术的发展，一种简单、快速、无损地检测薄膜的方法势在必行。该文介绍了一种利用磁屏蔽原理测量HTS双面膜临界参数的装置，该装置可给出直径小 于75mm(或50mm)的双面膜上的30个点的Tc和Jc值。测量是无损的，全部过程采用计算机控制。

关键词： 高温超导薄膜 临界参数 无损测量系统

作者: 孙永伟 董世迎

作者单位: 中国科学院物理研究所极低温物理开放实验室(北京),重庆大 学物理学院应 中国科学院物理研究所极低温物理开放实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国超导薄膜和超导电子器件学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 203～206

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）